Samsung T5 - Testovacia zostava, metodika testovania
Testovacia zostava
| procesor | Intel Core i5-6400 | 
| grafická karta | ASUS DUAL GTX 1070 8 GB | 
| základná doska | ASUS Z170-A | 
| RAM | 2x8GB Kingston | 
| zdroj | EVGA 850 B3 | 
| chladič CPU | SCYTHE Mugen 5 | 
| skrinka | Zalman R1 | 
| operačný systém | 64-bit Microsoft Windows 10 Home | 
Metodika testovania
Pri testovaní komponenty bežali na továrenských nastaveniach s nainštalovanými najnovšími ovládačmi pre testovaný disk, ak si to situácia vyžadovala.
Testovanie som realizoval rovnako ako moji kolegovia z redakcie a to tak, že bolo zredukované opäť iba na syntetické testy, aby bolo možné disky testovať aj iným redaktorom, či inom PC. Disky tak budú testované v syntetických benchmarkoch AnvilPro, ASSSD, ATTO, CrystalDiskMark a HDTune. V testoch skúmam ako sekvenčnú rýchlosť, tak aj rýchlosť prenosu malých súborov, ktorá nás zaujíma viac, nakoľko prenos malých súborov do 4KB tvorí väčšinu práce disku. Výsledky v grafoch sú zoradené podľa rýchlosti čítania, nakoľko táto operácia je častejšie využívaná ako zápis.
Posledným meraným parametrom diskov je teplota. Teplotu meriam cez nástroj CrystalDiskMark Info a to v pokoji (20min úplnej nečinnosti), a v záťaži (niekoľkokrát ihneď po sebe spustený test CrystalDiskMark, dĺžka záťaže taktiež cca 20min). Zaznamenávam najvyššiu teplotu, akú disk v danej situácii dosiahne.
 
    
Pjetro de
Pjetro de
roob